平面波导AWG芯片/bar条自动耦合+自动测试解决方案, 功能如下:

a)    兼容硅基和石英基材料芯片和bar条测试;

b)    软件系统集成，自动对光、自动扫描测试;

c)    单颗芯片对光时间25秒，测试20秒(PDL全带宽扫描)，IL测试精度±0.2dB, 重复性±0.1dB.

d)    多工位实时复用可调光源，节约测试成本;

自动分析每颗芯片测试数据，自动判定，自动分类。